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半導體曲線測試儀CS5100,cs3000,cs10000

更新時間:2017-10-28點擊次數:3506

半導體特性曲線圖示儀 CS-3000系列 (符合 UL 規(guī)格)功能

觀察I-V曲線以及電壓和電流的應用波形



電流和電壓脈沖在高電流模式下的應用

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應用電流和電壓的脈沖寬度以及測量點額定可設定為50 - 400 μs之間(CS-3200和CS-3300)。

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MOSFET“電流”和“電壓”特性測量示例

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可選擇“掃描類別”(SWEEP TYPE)

“掃描類別”包括“下”(DOWN)、“上”(UP)和“定制”(CUSTOM)(所有模式)。
如“定制”模式,可以掃描值之間的范圍。

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CS-800半導體參數搜索(可選)

該主控裝置軟件選項支持電壓和電流限制功能,以及自動Vth測量功能。

屏幕截圖■限制掃描(LIMIT SWEEP)
如果在“掃描”操作前了電壓和電流限值,操作會在超過限值后的下一個測量點停止執(zhí)行。

屏幕截圖■Vth和hFE設置
Vth和hFE可以自動測量。
Vth自動測量示例。 

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